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光电探测器特性测量实验

光电探测器特性测量实验

  • 产品最后更新于:2014-09-27 16:47      浏览:
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          【 RLE-SA05 】 产 品 说 明 RLE-SA05 光电探测器特性测量实验 实验简介: 光电探测器件是光电系统核心组成部件之一。频谱特性、...

产品介绍
RLE-SA05
   
 
   产 品 说 明
RLE-SA05 光电探测器特性测量实验
 
 
实验简介:
光电探测器件是光电系统核心组成部件之一。频谱特性、时间特性、电特性都是光电探测器的重要参数。了解和掌握这些重要参数的概念、特性和测试方法是光电专业本科生必备的专业知识。本实验是光电检测相关课程的基础实验内容。
 
实验内容:
1、热释电探测器光谱响应特性实验;
2、硅光电二极管光谱响应曲线测试实验;
3、幅频法测量光敏电阻响应速度实验;
4、脉冲法测量光电二级管响应速度实验;
5、偏置电压对光电二极管响应速度影响测试实验;
6、负载电阻对光电二极管响应速度影响测试实验。
 
主要设备参数
1. 光源组件:
白光源:150W卤素光源,亮度连续可调。
2. 光学调制盘组件:
镂空圆形结构,25Hz定频调制。
3. 探测器组件:
光谱响应特性测试电源:25Hz调制盘驱动,检频输出,精密信号放大电路增益150倍;
探测器时间响应测试电源:含硅光二级管、光敏电阻测试,负载电阻可变100Ω~100kΩ,偏置电压可调5V~15V,内置正弦信号/ 脉冲信号,频率可调;
光电二极管: 响应波长400nm~1100nm;
热释电探测器: 响应波长0.3μm~9μm ;
单色仪:精度0.2nm;光谱范围400nm~1100nm。
4. 光学组件:
红外滤光片,Φ25.4mm,带宽720nm~2500nm。
5. 讲义及快速安装指南。
 
选配设备参数:
数字示波器:带宽100MHz,采样频率1GHz。

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