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激光光束质量分析实验

激光光束质量分析实验

  • 产品最后更新于:2014-09-27 16:44      浏览:
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          【 RLE-CA03-A(B) 】 产 品 说 明 激光光束质量分析实验 实验简介: 激光光束区别于普通光源的球面波和平面波,它的横截面光强分...

产品介绍
RLE-CA03-A(B)
   
 
   产 品 说 明
激光光束质量分析实验
 
实验简介:
   激光光束区别于普通光源的球面波和平面波,它的横截面光强分布为高斯型,所以称为高斯光束。该实验研究高斯光束的场分布及传输和变换特征。该实验对激光光束变换有关的光学系统设计,以及光学谐振腔的工程设计都有重要意义。本实验内容是依据《激光原理》课程中“高斯光束”一节设计,将抽象的数学推导,转化为现实物理现象,帮助学生理解基本原理,并培养学生激光测量和仪器使用的基本能力。
 
实验内容:
1、高斯光束横模式变换实验(单横模,多横模);
2、激光光束定量测量实验(光斑直径、发散角、激光束腰、能量分布);
3、高斯光束变换与参数测量实验(扩束、准直、聚焦、ABCD定律)。
4、高斯光束M2因子测量实验。(B型配置)
 
主要设备参数:
1. 光源组件:
可变模式氦氖激光器:增益管长270mm,布鲁斯特窗,可变腔型,可变腔长。
2. 光斑轮廓仪组件:
分辨率1280×1024,量化深度10bit,像素大小5.2μm×5.2μm,USB2.0接口,光斑能量分布二维伪彩色显示,三维立体显示,一维分布曲线,可计算光斑直径、质心位置,USB2.0软件锁。
M2因子测量组件:(B型配置)
扫描探测范围:100mm,扫描分辨率5μm,扫描速度5~10mm/s,自动运动控制程序模块,曲线拟合模块。
3. 光学组件:
高斯光束变换透镜:Φ20mm~25.4mm,f=50.8mm~150mm,光洁度III级,[email protected]~700nm;
衰减片:透过率T=0.2~10%;
窄带滤光片:半波宽10nm。
4. 机械组件:
精密光学导轨:L×W=1200mm×90mm,配套滑块、一维移动滑块、调节支座、支杆;
CCD可变衰减光阑:C接口。
5. 讲义及快速安装指南。
 
选配设备参数:
1、仪器设备防尘罩:仪器设备防尘罩:外形尺寸1400mm×360mm× 300mm;观察窗材料:亚克力透明挡板。
2、计算机(基本配置)

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